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加速你的設(shè)計(jì)進(jìn)程 | 高速通道建模、仿真及眼圖的嵌入和去嵌測試信號(hào)完整性是分析和緩解高速數(shù)字鏈路中噪聲、失真和損耗所帶來的負(fù)面影響的系統(tǒng)工程,是高速鏈路性能和系統(tǒng)級(jí)可靠性的重要保障。 然而如何保障電氣性能的完整卻是高速電路“攻城獅”的一大難題。熟練的“老鳥”們總能夠應(yīng)用信號(hào)完整性理論,合理地使用仿真和測試工具,快速地解決各種電路的問題。 今天我們就來跟大家聊聊這其中的工具,并提供手把手的視頻讓大家的技術(shù)“突飛猛進(jìn)”。 在高速數(shù)字信號(hào)傳輸中,通道指的是從發(fā)射端IO Buffer到接收端IO Buffer之間的電子路徑。它可能由芯片的封裝,PCB板上的走線,連接器和線纜組成。一個(gè)簡單的通道可以從發(fā)射端IO Buffer,PCB走線到接收端IO Buffer。 一個(gè)復(fù)雜的通道(例如背板)由圖1所示元件組成。 圖1. 一個(gè)大約20英寸長的通道 在進(jìn)行通道建模的時(shí)候 需要注意三個(gè)最重要的特性 1.阻抗;2.損耗;3.延時(shí)或者相位 阻抗取決于機(jī)械結(jié)構(gòu),介電常數(shù)和金屬導(dǎo)電性。阻抗不匹配將造成多重反射,最終導(dǎo)致信號(hào)振鈴、過沖和下沖。 另外通道損耗對(duì)SERDES設(shè)計(jì)很關(guān)鍵,信號(hào)損失的主要原因是介電損耗和導(dǎo)體損耗,而這些損耗通常是依賴于頻率的。從而一個(gè)信道的頻帶寬度限制了其可通過的最大比特率。對(duì)于DDR來說,命令、地址和時(shí)鐘或DQ和DQS之間的相位差必須被很好的控制。 圖2. 一個(gè)通道中的不同元件 通道的元件可以用基于公式的傳輸線模型、電磁模型或者基于測量的模型建模。對(duì)于每個(gè)元件的建模正確與否取決于尺寸以及材料參數(shù)是否精確。元件模型準(zhǔn)確定義好之后,把這些元件級(jí)聯(lián)起來構(gòu)建一個(gè)完整的通道模型(如圖2所示),就可以通過TDR仿真來估計(jì)通道的阻抗和時(shí)延(如圖3所示)。通道的插入損耗可以通過S參數(shù)仿真估計(jì)(如圖4所示)。最終這些仿真結(jié)果將為“攻城獅”改善通道性能、支持更高速率傳輸提供調(diào)試優(yōu)化線索。 圖3.阻抗變化(左)和時(shí)延(右) 圖4. 插入損耗(左)和相位(右) 關(guān)鍵字:探針臺(tái),晶圓探針臺(tái),Cascade探針臺(tái),去嵌測試 版權(quán)聲明:本文轉(zhuǎn)載自網(wǎng)絡(luò)。若有侵權(quán),請(qǐng)聯(lián)系我公司刪除。 |