手動探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。那么手動探針臺的使用方式是怎樣的呢？下面就跟隨鍵德測試測量小編一起來看看吧!

　　手動探針臺的使用方式：

　　1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。

　　2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。

　　3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。

　　4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。

　　5.待測點位置確認好后,再調節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。

　　6.確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設備開始測試。

　　綜上所述，就是手動探針臺的使用方式了，手動探針臺廣泛應用于科研單位研發(fā)測試、院校教學操作、企業(yè)實驗室芯片失效分析等領域。一般使用于研發(fā)測試階段 ，批量不是很大的情況，大批量的重復測試推薦使用探卡。