探針臺是一種用于測試半導(dǎo)體芯片、封裝器件或其他電子設(shè)備的測試平臺，它通過探針與被測器件接觸，實現(xiàn)對被測器件的電流、電壓、電阻等電性能參數(shù)的測量。但在芯片研發(fā)和制造過程中，對設(shè)備的測試能力要求越來越高，因此我們需要根據(jù)芯片的各種測試要求提供不同的探針臺，那么探針臺都有哪些分類呢？下面鍵德測試測量小編就來為大家詳細介紹下。

　　探針臺一般根據(jù)用戶測試樣品、測試環(huán)境、應(yīng)用類別、產(chǎn)品級別以及操作方式分類，具體如下：

　　1、按測試樣品分類，可分為：晶圓測試探針臺、LED測試探針臺、功率器件測試探針臺、MEMS測試探針臺、PCB測試探針臺、液晶面板測試探針臺、太陽能電池片測試探針臺、材料表面電阻率測試探針臺、納米器件測試探針臺;

　　2、按應(yīng)用及測試環(huán)境分類，可分為：高頻、射頻及微波測試探針臺、高/低溫環(huán)境測試探針臺、高/低溫真空環(huán)境測試探針臺、低電流(fA級)測試探針臺、IC/IV /p-IV測試探針臺、高壓、大電流測試探針臺、特殊氣體環(huán)境測試探針臺、磁場環(huán)境測試探針臺、雙面點針測試探針臺、全封閉式探針臺(非真空環(huán)境);

　　3、按級別分類可分為：簡易型探針臺、標(biāo)準(zhǔn)型探針臺、分析型探針臺、高端型探針臺;

　　4、按操作方式可分為：手動型、半自動型、全自動型;

　　5、按特殊應(yīng)用測試分為：非標(biāo)準(zhǔn)類結(jié)構(gòu)測試探針臺。

　　綜上所述，就是探針臺的分類了，鍵德測試測量是一家專注于手動探針臺的企業(yè)，其研發(fā)生產(chǎn)的探針臺廣泛應(yīng)用于DC測試、射頻測試、負載牽引測試、磁場測試、光電流測試以及超導(dǎo)測試等先進的半導(dǎo)體電學(xué)表征測試。大家如果有探針臺的需要可以隨時聯(lián)系鍵德測試測量，我們隨時為您服務(wù)!